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触媒作用を活用する製品の開発においては、触媒性能を長期に渡って安定に維持することが重要となり、触媒の劣化状態と劣化の機構を把握するための構造解析技術が必要です。分析データと活性評価データとの相関から触媒寿命を予測し、触媒性能を維持し安定に運転することが可能になります。
図1は、X線回折装置（XRD）で触媒の結晶相を解析し、活性サイトとなる結晶の半値幅の減少から結晶の成長を評価しています。使用後の触媒で結晶径が成長していることは、図2のフィールドエミション型走査電子型顕微鏡/エネルギー分散型 X線マイクロアナライザー（FE-SEM/EDX）からも確認しています。 |
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| 図1 |
Ru/Al2O3 触媒の使用前( - ) 、使用後( - ) のエックス線回折スペクトル。Ruのブラッグ回折ピークにおける半値幅が使用後は減少しており、結晶の成長を示している。 |
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| 図2 |
Ru/Al2O3 触媒の使用後のSEM像。SEM像の 2箇所の○印は、 EDXスペクトルからAl2O3 部分とRu部分であることを示している。 |
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